In situ electron microscopy

In situ electron microscopy

  • In situ electron microscopy
  • In situ electron microscopy
  • In situ electron microscopy
  • In situ electron microscopy

What we can offer:

  • Cooling/Heating (-170C to 1200C) while imaging with TEM/STEM/SEM. 

  • Low vacuum or environmental conditions in SEM, in-situ water condensation, or ice crystal growing. 

  • Injection gas or vapor locally under the electron beam. Micromechanical manipulations, stress-strain experiments.

Possibility to:

  • Structural dynamics during cooling/heating,  properties and performance of hydrophilic or hydrophobic coatings. 

  • Mechanical properties measurement.

Interesting for: 

Materials science, microelectronics and semiconductors, automotive, laboratory test facilities, microscopy laboratories, machine-tool manufacturers, iron and steel industry, energy storage and solar-energy materials industry, objects of cultural heritage examination, energy and petrochemical companies.

Tools

Areto garbia

300m2-ko areto garbiak ISO 5 (Class 100) eta ISO 7 (Class 1000) klasifikazioa duten guneak ditu, eta nanofabrikazio eta nanokarakterizazio prozesuetarako erabiltzen da.

Tresneria galeria

Adituek kudeatutako abangoardiako tresneria arlo anitzetako ikerlariek erabiltzen dute, mikroskopio elektronikoak, tunel-mikroskopioak, eta nanofabrikazio eta karakterizazio erremintak barne.

Areto garbia

300m2-ko areto garbiak ISO 5 (Class 100) eta ISO 7 (Class 1000) klasifikazioa duten guneak ditu, eta nanofabrikazio eta nanokarakterizazio prozesuetarako erabiltzen da.

Tresneria galeria

Adituek kudeatutako abangoardiako tresneria arlo anitzetako ikerlariek erabiltzen dute, mikroskopio elektronikoak, tunel-mikroskopioak, eta nanofabrikazio eta karakterizazio erremintak barne.

Areto garbia

300m2-ko areto garbiak ISO 5 (Class 100) eta ISO 7 (Class 1000) klasifikazioa duten guneak ditu, eta nanofabrikazio eta nanokarakterizazio prozesuetarako erabiltzen da.

Tresneria galeria

Adituek kudeatutako abangoardiako tresneria arlo anitzetako ikerlariek erabiltzen dute, mikroskopio elektronikoak, tunel-mikroskopioak, eta nanofabrikazio eta karakterizazio erremintak barne.